Accession No. | M0012651 ฉ1 |
| M0012652 ฉ2 |
| M0012653 ฉ3 |
| M0012654 ฉ4 |
| M0012655 ฉ5 |
Call Number | 621.3815 ช647ก 2539 |
Author | ชูชัย ธนสารตั้งเจริญ (11) |
Title | การทดสอบและวิเคราะห์จุดเสียในวงจรอิเลคทรอนิคส์ / ชูชัย ธนสารตั้งเจริญ |
Imprint | กรุงเทพฯ : ฟิสิกส์เซ็นเตอร์, 2539 |
Physical | 208 หน้า : ภาพประกอบ |
Series | โครงการตำราเรียนฟิสิกส์เซ็นเตอร์ |
Subject | วงจรอิเล็กทรอนิกส์ (129) |
| วงจรอิเล็กทรอนิกส์ -- การทดสอบ |
| วงจรไฟฟ้า (139) |
| อิเล็กทรอนิกส์ (159) |
สาขาวิชา | คณะวิศวกรรมศาสตร์ -- อิเล็กทรอนิกส์ (390) |
| คณะวิศวกรรมศาสตร์ -- ไฟฟ้า (806) |
Price | 100 |
Group | หนังสือทั่วไป |
Location | สำนักหอสมุด - ชั้น 3 | |