| Tag | Ind | Content |
|---|
| 001 | ## | 0001-4520 |
| 003 | ## | 0001-3884 |
| 016 | ## | M0012651 ฉ1 |
| 016 | ## | M0012652 ฉ2 |
| 016 | ## | M0012653 ฉ3 |
| 016 | ## | M0012654 ฉ4 |
| 016 | ## | M0012655 ฉ5 |
| 035 | ## | Main000014520 |
| 082 | ## | 621.3815 \bช647ก 2539 |
| 100 | ## | ชูชัย ธนสารตั้งเจริญ |
| 245 | ## | การทดสอบและวิเคราะห์จุดเสียในวงจรอิเลคทรอนิคส์ /\cชูชัย ธนสารตั้งเจริญ |
| 260 | ## | กรุงเทพฯ :\bฟิสิกส์เซ็นเตอร์, \c2539 |
| 300 | ## | 208 หน้า :\bภาพประกอบ |
| 440 | ## | โครงการตำราเรียนฟิสิกส์เซ็นเตอร์ |
| 650 | ## | วงจรอิเล็กทรอนิกส์ |
| 650 | ## | วงจรอิเล็กทรอนิกส์ \xการทดสอบ |
| 650 | ## | วงจรไฟฟ้า |
| 650 | ## | อิเล็กทรอนิกส์ |
| 690 | ## | คณะวิศวกรรมศาสตร์ \xอิเล็กทรอนิกส์ |
| 690 | ## | คณะวิศวกรรมศาสตร์ \xไฟฟ้า |
| 910 | ## | 100 |
| 930 | ## | หนังสือทั่วไป |
| 949 | ## | สำนักหอสมุด - ชั้น 3 |
ไทย
